E-052K
粒子形状測定装置
FPIA-3000

主な用途
多量の粒子の大きさと形を解析
仕様詳細
粒子画像から粒子形状や径に関する情報を得ることが可能な装置で、大きさと形の情報を二次元で解析することができる。また、個々の粒子の情報を計測するのみならず、多量の粒子を一度に測定することが可能で、統計的信頼性を確保できる。1回で最大約36万個の粒子を約2分で計測し、連続測定も可能である。
メーカー
シスメックス
装置のご利用やその他のお問い合わせは
[ 共同利用機器 ] 粒子形状測定装置
E-052K
FPIA-3000

多量の粒子の大きさと形を解析
粒子画像から粒子形状や径に関する情報を得ることが可能な装置で、大きさと形の情報を二次元で解析することができる。また、個々の粒子の情報を計測するのみならず、多量の粒子を一度に測定することが可能で、統計的信頼性を確保できる。1回で最大約36万個の粒子を約2分で計測し、連続測定も可能である。
シスメックス
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